最先端製品で使用されているプリント基板は、パターンのファインピッチ化が急速に進んでいます。
当社が開発した非接触検査方式の電気検査も、プリント基板のファインピッチ化と共に進化してきました。最先端技術を駆使したプリント基板は微細かつデリケートであり、ピン接触によって発生する傷やパーティクルを嫌います。
また、ファインパターン部への接触検査では検査治具が非常に高価となり、ランニングコストを圧迫していました。
当社の非接触検査技術はこのような課題をクリアし、数多くのお客様に受け入れられ実績を残して参りました。
高精細化が進む液晶パネルなどのフラットパネル分野ではさらに進化した完全非接触方式の高速検査技術で、安定した品質の製品供給に貢献しています。
OHTの非接触検査技術はこれからも更なる進化を続け、最先端技術を支え続けていきます。
