toggle navigation
Contents
HOME
製品情報
フラットパネル検査装置
電子回路基板検査装置
半導体検査装置
製品技術
非接触検査技術
EPIS
MRAM検査技術
会社概要
代表あいさつ・概要
沿革
海外サポート拠点
業績ハイライト
採用情報
お知らせ
お問い合わせ
お電話でのお問い合わせ
084-960-2120
JP
EN
製品情報
フラットパネル検査装置
電子回路基板検査装置
半導体検査装置
製品技術
非接触検査技術
EPIS
MRAM検査技術
会社概要
代表あいさつ・概要
沿革
海外サポート拠点
業績ハイライト
採用情報
HOME
半導体検査装置
フルオートMRAMプローバーシステム
製品情報
フラットパネル
検査装置
電子回路基板
検査装置
半導体
検査装置
フルオートMRAM
プローバーシステム
全自動でMRAM特性の計測が可能です
強力で均一な磁界を発生できます（最大1.5T、業界最高）
非磁性体のウエハーチャックを採用し、磁界の高速掃引が可能です（最大４Hz、±１T、業界最速）
一覧へ戻る
▲
