当社独自技術「EPIS」関連の論文が掲載されました（10/1）。
◆論文タイトル「High-Resolution Defect Detection for Flat Panel Display Using Proximity Capacitance Image Sensor」
◆ジャーナル名：ITE Transactions on Media Technology and Applications (MTA)
（発行元：The Institute of Image Information and Television Engineers）
◆執筆者：オー・エイチ・ティー　研究開発部　安田俊朗ほか

EPIS(Electrical Picture Inspection System)とは、高感度の微細な近接容量センサーをアレイ状に配置したものです。
センシング対象物との静電容量結合を介した信号を取得し、電圧（電界）や誘電率の分布を二次元画像として表示できます。
その結果、いわば目に見えない「電気的画像」を出力できます。
EPISは、映像情報メディア学会「丹羽高柳賞（論文賞）2022」を受賞するなど高い評価を得てきました。
OHTでは引き続き開発を進めており、今回の論文掲載はその成果を示すものとなりました。

掲載論文URL： https://www.jstage.jst.go.jp/article/mta/11/4/11_158/_article/-char/en